S-5500超高分辨率扫描电子显微镜

   S-5500的独特设计可以保证0.4nm的超高分辨率，从而获得新的信息并展现纳米世界的秘密。

1. 新型的物镜设计可以使其达到世界最高分辨率：0.4nm
   (30kV)。同时新的控制系统使得超高分辨的显微分析变得
   简单易行。
2. 保证分辨率为0.4nm (30kV), 1.6nm (1kV)
3. Hitachi的专利技术ExB可以让操作者优化图像中SE和BSE信号的比例
4. 新开发的BF/DF双STEM检测器可以同时显示BF像及DF像。在DF STEM模式中还可以改变检测角度。(可选)
5. 电子光学系统的改进可以不用改变样品位置而同时进行EDS分析及形貌观察。
6. 可以使用与FIB兼容的样品杆。

技术指标：