H-9500透射电子显微镜

     H-9000 300kV透射电子显微镜以其优秀的稳定性、应用性能及可靠性满足近十年来的科研团体的严格要求。新款的300kV透射电子显微镜H-9500继承了这些优点，又采用了一些新技术，实现了计算机控制和数字图像，易于操作。可以获得高质量的原子分辨率图像，是材料研究领域不可或缺的工具。

特点：
1．易于操作的Windows XP和图形操作界面
2．高效快捷的数字化电子显微镜
   5分钟内实现300kV 高压下电子束发射(自动模式)
   1分钟换样时间
3．快慢双模式照相系统
4． 图片数据库
5． 稳定可靠的5轴样品台低速或高速样品台
6． 样品位置记忆追踪功能
7． FIB扩展夹具(选件)

性能描述

                              S-4800高分辨冷场发射扫描电子显微镜

    日立S­4800扫描电子显微镜采用大样品室的半内透镜设计，却能达到超高分辨率，可以与内透镜UHR扫描电镜相媲美。

特点：

1. 新型物镜采用专利的ExB设计。使用单检测器和超级ExB可以分别收集和分离单纯
   二次电子、混合二次电子及背散射电子的信号。
2. 1KV低加速电压时保证有2.0nm的分辨率。
3. 两种样品台可选：I型50mm x 50mm小样品台或Ⅱ型110mm x 110mm大样品台。
4. 包括涡轮分子泵在内的先进的真空系统。
5. 便于用户使用的、基于图形用户界面的控制系统，包含多种自动功能，操作简易

性能指标：

               S-5500超高分辨率扫描电子显微镜

   S-5500的独特设计可以保证0.4nm的超高分辨率，从而获得新的信息并展现纳米世界的秘密。

1. 新型的物镜设计可以使其达到世界最高分辨率：0.4nm
   (30kV)。同时新的控制系统使得超高分辨的显微分析变得
   简单易行。
2. 保证分辨率为0.4nm (30kV), 1.6nm (1kV)
3. Hitachi的专利技术ExB可以让操作者优化图像中SE和BSE信号的比例
4. 新开发的BF/DF双STEM检测器可以同时显示BF像及DF像。在DF STEM模式中还可以改变检测角度。(可选)
5. 电子光学系统的改进可以不用改变样品位置而同时进行EDS分析及形貌观察。
6. 可以使用与FIB兼容的样品杆。

技术指标：

           H-7650透射电子显微镜

    H-7650是为生物领域及材料领域而开发的最先进的透射电子显微镜。H-7650配有高灵敏度的CCD相机，在低剂量电子束时可以得到最佳对比度的图像。由于CCD相机是和电镜是一体，因此可以通过手动控制板或PC机来控制CCD相机。在显示器上显示的图像可以以数字格式存储下来。内置的自动聚焦及其他自动的功能，以及数据库功能可以让操作者在电镜观察的过程中也能享受到友好的操作环境。

特点：

1.　 使用日立独有的双狭缝物镜，可以得到独有的低倍大视野、高对比度成像的特点。
2.　 标配有高灵敏度CCD相机，具有低剂量电子束成像的功能。CCD相机的灵敏度约比
     通常的光学相机高40倍。
3.   CCD相机与显微镜是一个完整的整体，这样可以有友好的操作环境。
4.   具有更多的自动化功能，如自动聚焦、自动消像散、自动拍照等。
5.   标准就具有图像数据库功能，测长、图像过滤功能等。
6.   具有较强的扩展功能，如三维重构等。

技术指标：