SARTORIUS赛多利斯 卓越型电子天平(内校)CPA64
SARTORIUS赛多利斯 卓越型电子天平(内校)CPA64-Sartorius赛多利斯-CPA64
- 品牌属性:进口
- 校准:内校
CPA简介 新一代得到证实的赛多利斯能力系列实验室天平,赛多利斯CPA系列的可靠性在日常实验室操作过程中赢得了用户,再一次设定了在科技,质量和功能领域的标准。新的CPA是那些想要避免买到“错误”称重设备风险的用户的首选。此系列包含5个量程从64到320g的分析天平。 所有 CPA 分析天平都结合了高性能的技术特点,并具有坚固耐用,经典的设计确保在持续的实验室应用中保持最高的准确性。 每一个 CPA 分析天平都具有快速,专业的处理称重任务的功能。包括符合 ISO/GLP 标准的记录和打印,与 YDP03-0CE 打印机和赛多利斯或者电脑连接。双向的RS-232C 数据接口为与其他设备通讯提供基础,例如电脑。 |
技术 |
功能 |
● 防静电涂层玻璃防风罩,能有效地屏蔽外界静电荷的干扰 ● 应用程序:百分比称量,公式求和,动态称量/动物称重, 单位换算,计数 |
● 超级单体传感器 ● 带蓝色背景光的液晶显示屏(CP2P、CP2P-F、CP225D型号没有背景光), 字体高度:16.5mm ,0.001g精密天平防风罩的侧面玻璃板可取出, 上盖与防风罩的一边相连,可以翻启 |
成功源于高超技术 ◆ 赛多利斯最新CPA系列电子天平全部采用Monolithic称重传感器。不但异常精确,而且极为坚固、可靠。 ◆ 另外CPA拥有的更多技术优势,确保其即使连续操作,也能得到最高精度。 ◆ 内置电机驱动校准砝码:无论何时,只需轻按CAL键,天平就能进行自动内置校准和调整。 ◆ isoCAL功能:当环境温度改变达到一定值,或在特定的时间间隔后isoCAL就能进行全自动内置校准和调整。也就是说,CPA天平 能在规定时间内进行校准,从而保证始终如一的高精确度。 ◆ 高对比度带背景光显示屏,在任何光线下都能得到清晰的读数(微量、准微量天平不带背景光)。 |
成功源于更耐用
◆ 由于拥有强大的核心——Monolithic称重传感器,使CPA的外壳和结构都更耐用,能够满足苛刻的日常使用。触感反馈式按键不但 确保操作准确、有效,同时更能适应频繁的使用,即使经过数千次的操作,也能保证日复一日的精密工作。 ◆ CPA不但能得到精确的称量结果,并且即便使用多年也始终能保持最高性能。 ◆ CPA共有29种型号,从准微量天平倒34kg大量程天平,型号齐全。 |
成功源于更多性能
◆ 赛多利斯最新CPA系列电子天平就像一个成功的拳击手,一击即中,然后就是得分,赢得冠军。 ◆ 连接赛多利斯YDP03-0CE数据打印机或电脑,CPA就能输出符合ISO/GLP标准的文档记录,可用于质量管理系统。 |
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● 优异的防护功能 ● 防风门开启顺畅,方便进入称量室 ● 卓越的易清洁式设计 ● 双向RS-232C接口,可与电脑、分析仪器或机器人相连 |
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赛多利斯——世界天平之父 |
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赛多利斯集团是实验室和生产过程技术的世界领导者,包括生物技术和机电一体化部门。2009年,集团销售额达到了6.021亿欧元。公司于1870年在哥廷根成立,目前员工大约4350人。其生物技术部门专注于过滤、液体处理、发酵、纯化和实验室应用。机电一体化部门主要生产应用于实验室和工业的称重、测量和自动化技术设备和系统。赛多利斯的主要客户来自于制药、化工、食品行业以及众多公共部门的科研院校。赛多利斯在110多个国家设立了分支机构和办事处,生产基地遍布欧洲、亚洲和美洲等地。 |
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技术介绍 |
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超级单体传感器(MONOLITHIC)的制造者 |
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超级单体传感器是将一块特种合金在超高速加工中心上进行三维立体加工一次成型的称重传感器。它减少了120多个零部件。是除磁缸和线圈以外的完整的传感器。高度一体化的超级单体传感器使天平具有更高的精度(最高分辨率可达亿分之二)、更快速的响应、更加稳定的示值读数、更加坚固且耐用,并且受环境温度影响极小。 |
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率先使用微处理技术 |
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早在1975Ian,赛多利斯公司就率先将微处理技术应用于天平,并被评为世界100个最有价值的研究技术成果之一。在该技术领域,赛多利斯一直保持着世界领先的地位。1990年,赛多利斯公司又将40MHz具有层状结构的高速微处理MC1技术应用于电子天平,使分析天平的反应时间降低为2秒。 |
商品属性
- 品牌属性:进口
- 校准:内校
商品属性 | |
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商品名称 | SARTORIUS赛多利斯 卓越型电子天平(内校)CPA64-CPA64-Sartorius赛多利斯 |
型号 | CPA64 |
类别 | 实验室常用设备|||天平、泵|||实验天平|||SARTORIUS赛多利斯卓越型电子天平(内校)CPA64 |
品牌 | Sartorius赛多利斯 |
品牌简介 | Sartorius赛多利斯 |
关键字 | 天平 分析天平,天平,称重,传感器,电子天平,技术,微量 |