Hitachi日立 S-3400N扫描电子显微镜

Hitachi日立 S-3400N扫描电子显微镜

Hitachi日立 S-3400N扫描电子显微镜

产品编号:
市场价:¥0.00
会员价:¥0.00
品牌:中文
生产厂家:Hitachi日立

  • 产品概览
  • 技术参数
  • 订购信息
  • 相关资料
  • 相关产品

Hitachi日立 S-3400N扫描电子显微镜

S-3400N扫描电子显微镜
产品介绍:

              S­-3400N扫描电子显微镜

S-3400N具有最新开发的电子光学系统,强大的自动化功能,操作更简易。

特点:

1. S-3400N具有强大的自动功能,包括自动灯丝饱和、4偏压、自动枪对中、自动束流设定、
   自动合轴自动聚焦和消像散、自动亮度对比度等。
2. 在3kV低加速电压时保证有10nm的分辨率。
3. 新型5分割高灵敏半导体式背散射探头。
4. S-3400N II型具有五轴马达台,倾斜角度可达-20度~+90度,样品最高可达80mm。
5. 分析样品仓可以同时安装EDX , WDX 及EBSD。
6. 真空系统使用涡轮分子泵,洁净、高效。

技术指标:

 项目  描述
 SE分辨率  3.0nm (30kV),高真空模式 
 10nm (3kV), 高真空模式
 BSE分辨率  4.0nm (30kV),低真空模式
 放大倍率  x5 ~ x300,000
 加速电压  0.3 ~ 30 kV
 低真空范围  6 ~ 270 Pa
 最大样品尺寸  直径200mm
 样品台            I型                              II型
 X          0 ~ 80mm                          0 ~ 100mm
 Y           0 ~ 40mm                          0 ~ 50mm
 Z          5 ~ 35mm                          5 ~ 65mm
 R             360º                              360º
 T         -20º~ +90º                        -20º ~ +90º
 最大样品高度       35mm (WD=10mm)                     80mm (WD=10mm)
 驱动类型           手动                            五轴马达驱动
 灯丝  预对中钨灯丝
 物镜光栏  可移动式4孔物镜光栏
 枪偏压  固定比例偏压、手动偏压和自动4偏
 检测器  二次电子检测器
 高灵敏度半导体背散射电子检测器
 分析位置  WD=10mm, TOA=35o
 控制  鼠标、键盘,手动旋钮
 自动调校  自动灯丝饱和、自动4偏压、自动枪对中、自动束流设定、自动合轴、自动聚焦  
 消像散、自动亮度对比度